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共聚焦显微镜系统:μsurf系列用来测量表面物理形貌,进行微纳米尺度的三维形貌分析,如3D表面形貌、2D的纵深形貌、轮廓(纵深、宽度、曲率、角度)、表面粗糙度等。
研究级共聚焦显微系统 usurf expert是一套*为测试以及实验设备的开发而优化的系统,满足非接触性测量行业内Z高的要求。
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